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用于低倍系统的多功能校准卡
Multi-Function Calibration Target
商品货号:ECS001736
商品品牌:Edmund
详细介绍
  • 可选新的毛玻璃版
  • 校准系统倍率范围从0.08X到4X
  • 可测MTF,视场,分辨率,景深,以及畸变
  • 附带N.I.S.T.精度证明

本产品可用在倍率在0.08X到4X的测量仪器的系统校准,功能多样,使用一个卡就能够得出更多的参数。景深可由各种分辨率图组得到,可应用到各种特殊场合。系统传递函数可用频率为5lp/mm 到 80lp/mm线对的图案来测量。本测试图案包含两个外框,100 x 166 x 1.5mm,采用玻璃板上镀铬膜层,第二个板有个圆圈和栅格图案,可测量平面和斜面的畸变。可利用此图案的整个视场,在测不同的参数时无需挪动靶面,本品制作精度高,附带详细规格和认证。本品同时带操作卡,CD使用指南,以及包装箱,#58-770有毛玻璃卡和标准玻璃镀铬卡。

Substrate Select Soda Lime or Opal Glass
Plate Dimensions 154mm x 100mm (±1.0mm)
Thickness 1.5mm (3.2mm for #58-769)
Coating Evaporated Chrome
Flatness 1 λ per inch
Surface Quality 60-20
Parallelism 0.05mm
Maximum Bow 0.75mm

 
Tested Parameter Pattern Size Pattern Description
Resolution/MTF 154mm x 100mm 11 cycles of 5 to 40 to 5 lp/mm
Resolution/MTF 21.8mm x 28mm 50 lp/mm
Resolution/MTF 21.8mm x 26mm 60 lp/mm
Resolution/MTF 21.9mm x 24mm 70 lp/mm
Low Mag DOF 100mm x 154mm 80 lp/mm
FOV/DOF 154mm Linear Scale, 0-154mm, 0.25mm pitch
Distortion 80mm x 80mm 5, 10, 15, 20, 30, 40, 50, 60, 70, 80, & 90mm Diameter Circles
Distortion 80mm x 80mm 1, 2 & 4mm Pitch
Blooming 115mm x 20mm Positive and Negative Circles & Squares

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