北京超立方科技有限公司
特性:
设计要求符合CIE 127 LED测试标准;
高灵敏度CCD分光计覆盖360至1000nm波谱范围;
USB2.0接口;
采用NIST认证的照明灯;
本LED测试系统模块测量精度高,使用简单方便;三种系统结构可覆盖全波段测量,可用于测量LED或LED阵列的光学参数。数据采集设备可提供光谱、颜色、功率、光通量、纯度、峰值波长等信息。
MLED-2 LED测试系统可用于测量LED的光通量和发光强度。本系统包括一个2”直径的积分球和直径为1/2” 的输入端,2048像素的CCD分光计,一个内置校准灯和电源,以及一套三端校准中性密度滤光片。同时也包括条件B的光强管用于ILEDB,10cm(0.01sr)CIE,可测量发光强度,光通量和所有的源色信息。灯是通过校准的,可用来测试光通量,同时也提供了一种简单地系统内部校准和标度。中性密度滤光片可互换,使系统提高了动态范围,可用于测量各种高亮度或大功率LED,LED插槽单独销售,在测量光亮度时必须用到。
MLED-6 LED测试系统可用于测量大功率LED的发光强度和直径超过1.5英寸的LED组的光通量。它是由MLED-2和一个6英寸的积分球装配而成的,将MLED-2模组安装在6英寸的积分球上,将可换式校准灯装到6英寸的球中,然后再次校准灯,然后系统就可以使用了。这种系统专为外部安装的测试样品设计。
MLED-12 测量系统适用于测试大面积的LED阵列和组合的光通量,它是由MLED-2系统和一个12英寸直径的积分球组成,一起固定在底座测试台上。测试样品可置于球中心,或放在距离球体端口4英寸的球外表面。12英寸的球包括样品测试座和预制的连线,可连接到使用者的电源上,给球内的被测样品供电。
探测器
2048元件CCD阵列
发光强度(条件B)
@ 450 纳米
0.3 毫坎德拉至 200 坎德拉
@ 550 纳米
27 毫坎德拉至 2400 坎德拉
@ 650 纳米
11 毫坎德拉至 95 坎德拉
光通量(带OD2滤光片)
0.3 毫流明至 200 流明
27 毫米至 200 毫米
11 毫米至 200 毫米
校准范围
360 至 1000 纳米
光谱分辨率
1.5 纳米
波长精度
0.5 纳米
样本光谱区间
1.0 纳米
杂散光
.05% @ 600 nm
曝光时间
5 毫秒至 3000 毫秒
通过 GUI 的最小扫描时间
2 秒
光纤连接器
SMA
计算机接口
USB 2.0
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