特点：

• 双制刻尺公制/英制；

• 没有偏轴读数误差；

• 带NIST 追踪认证码；

这是一种很别致的精密显微尺，可直接测量2维方向，同时也可用在轴向标定光学测量系统，以及2维X-Y方向调整台等固定设备上。本品有两种尺寸单位公制/英制，使用者可根据需要设定。标度直接与被测物接触，使用者可通过放大镜观察并读出测量数据。正因为如此，这种测量方式没有偏轴读数误差，因此也就没有补偿调整的必要，因为这是间接地、轴外读数系统。本品包含装在导轨上的放大镜（12”和25”的有两个）来检查确认落点，这样就不会接触到工作面，也不用在显微尺上移动任何东西。本品包括NIST追踪查询精度认证，尺寸规格为最宽处2.50" ,最高处 0.71" (只在侧向导轨处有), 1.46 - 1.58" H w/放大镜. 结构：在0.225”厚的玻璃上镀双层铬，低反射的铝合金导轨，弹簧合盖以保护玻璃在常规使用下不被破坏。