我们的CW扫描系统由beamlux II CW扫描软件、我们的ML3743相机、ML8010电机控制器和一个线性平台组成。

高功率近场透镜用于放大激光线，以获得更高分辨率。相机沿激光线自动移动，每一步采集一帧图像。Beamlux II软件将所有单帧图像拼接成一张全景图。此图片采用我们Beamlux II软件的所有功能进行评估。

可评估长度达600毫米的激光线。

由beamlux II CW扫描控制的额外电动线性位移台和更多摄像头，将简单的测试系统扩展为用于生产、质量控制和研究的复杂测量工具。

它是在半导体行业中经认可的工具。我们致力于为客户提供适用于该应用的最佳测量设备。可根据您的规格要求提供完整的扫描系统。

软件ML1204 CW扫描

beamlux II CW扫描仪配备了一个额外的窗口，便于轻松获取激光线。CW扫描窗口可实现对激光线的简单扫描，且分辨率最高。支持激光线的完整评估，以及自动曝光控制、背景校正等功能。
可提供最高精度的浮动平均值。

• 符合ISO标准的光束分析；

• 光束宽度评估；
• 质心；
• 横截面；
• 有效照射面积；
• 边缘陡度；
• 平台均匀性；
• 全面评估结果和统计数据；
• 支持多种导入和导出数据格式；
• 多摄像头支持；
• TCP/IP 远程控制；